加探針接觸式測(cè)量?jī)x可以測(cè)量高、寬、長(zhǎng)度、兩面的夾角、圓錐的頂角、圓柱的直徑、倒角、直線度、平面度、圓度、圓柱度、垂直度、平行度、傾斜度等。



設(shè)備用途:
加探針接觸式測(cè)量?jī)x可以測(cè)量高、寬、長(zhǎng)度、兩面的夾角、圓錐的頂角、圓柱的直徑、倒角、直線度、平面度、圓度、圓柱度、垂直度、平行度、傾斜度等。
1.全面支持標(biāo)準(zhǔn)幾何特征檢測(cè)或通過(guò)檢測(cè)構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)幾何元素,如:平面、直線、點(diǎn);
2.支持大量的標(biāo)準(zhǔn)幾何特征的檢測(cè),如:圓、圓槽、矩形框、正多邊形、部分標(biāo)準(zhǔn)截面曲線;
3. 支持一部份標(biāo)準(zhǔn)曲面的探測(cè),如圓柱、圓錐、球、圓環(huán)、曲面等;
4. 支持探測(cè)大量的角度檢測(cè),如:兩直線、兩平面、兩矢量、平面和直線;
5. 支持探測(cè)多種空間距離,如:點(diǎn)與面、點(diǎn)與點(diǎn)、點(diǎn)點(diǎn)的相對(duì)位置等;
6. 支持建立多種參考基準(zhǔn);
7. 支持復(fù)合ISO標(biāo)準(zhǔn)形狀公差、位置公差測(cè)量向?qū)?
8. 支持單點(diǎn)檢測(cè)和多種幾何體的連續(xù)重復(fù)檢測(cè),極大的提高檢測(cè)效率。

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